今天是:
场发射扫描电子显微镜(SUPRA 55)
场发射扫描电子显微镜(SUPRA 55)
SUPRA 55 SAPPHIRE
德国卡尔蔡司公司
李翠红
23971130
李薰楼120房间
主要技术指标
› 分辨率:1.0nm  15kV
                1.7nm  1kV
› 放大倍数:12 -900,000x
› 加速电压:0.1 -30kV
› 电子枪:热场发射
› 可分析元素范围:4Be~94Pu
常用附件

› 环形高效In-lens SE探测器
› AsB背散射探测器
› OXFORD X-ray电制冷能谱仪
› AZtec Microanalysis System
› HKL Channe1 5 EBSD
› 红外CCD显示系统› UNAT SEM II原位加载系统

主要用途

› 材料的表面形貌、组织结构的观察分析
› 纳米材料:纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量分析
› 材料及各种相的成分测定
› 材料织构、晶粒取向的测定

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