沈阳材料科学国家研究中心

设备名称：场发射扫描电子显微镜(SUPRA 55)

设备型号：SUPRA 55 SAPPHIRE

制造商：德国卡尔蔡司公司

负责人：李翠红

联系方式：23971130

放置地点：李薰楼120房间

主要技术指标

› 分辨率：1.0nm 15kV
1.7nm 1kV
› 放大倍数：12 -900,000x
› 加速电压：0.1 -30kV
› 电子枪：热场发射
› 可分析元素范围：4Be～94Pu

常用附件

› 环形高效In-lens SE探测器
› AsB背散射探测器
› OXFORD X-ray电制冷能谱仪
› AZtec Microanalysis System
› HKL Channe1 5 EBSD
› 红外CCD显示系统› UNAT SEM II原位加载系统

主要用途

› 材料的表面形貌、组织结构的观察分析
› 纳米材料：纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量分析
› 材料及各种相的成分测定
› 材料织构、晶粒取向的测定

附件下载

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